XGRIDS L2 Pro Survey Grade RTK Kit

XGRIDS L2 Pro Survey Grade RTK Kit

El kit RTK XGRIDS L2 Pro para Topografía es la configuración más avanzada y precisa de toda la línea L2 Pro. Este kit fue diseñado específicamente para ingeniería y topografía de alta precisión, donde el margen de error debe ser mínimo y la georreferenciación absoluta es obligatoria.

Aplicaciones

Cálculo de volumen: Medición precisa de reservas de mineral o excavaciones.

Monitoreo estructural: Detección de deformaciones en puentes o edificios a lo largo del tiempo.

Topografía de carreteras: Medición de largas distancias con precisión garantizada gracias a la corrección RTK constante.

Arqueología y patrimonio: Documentación detallada con coordenadas globales exactas.